Fachtagung PRORA Prozessnahe Röntgenanalytik 24. und 25. November 2011
Ort:
WISTA Wissenschafts- und Technologiepark
Adlershof
Einstein-/Newton-Kabinett
Bunsensaal
Rudower Chaussee 17
12489 Berlin
Themen:
Methodische Besonderheiten der Prozessanalytik
– Anforderungen an die Zuverlässigkeit und Langzeitstabilität von Geräten
– Steuer- und Auswertesoftware für die Echtzeitverarbeitung großer Datenmengen
Applikationen in der Industrie
– Analytische Fragestellungen bei Recycling-Prozessen und der Erkundung von Rohstoffvorkommen
– Prozessnahe Analytik für die Entwicklung und Herstellung von Systemen zur Energieerzeugung sowie zur Energiespeicherung
– Prozessanalytik zur Gewährleistung der Sicherheit der Bevölkerung – Warenkontrolle an Grenzen – Überwachung der Lebensmitteltechnologie – Überwachung von technischen Anlagen – Umweltanalytik
– Anwendungen der Röntgenanalyseverfahren in der Medizintechnik (Prothetik)
Neue röntgenanalytische Methoden (Forschungsvorlauf)
– Röntgenmikroskopie
– Verfahren zur Dünnschichtanalytik und-speziation, Partikel- und Grenzflächencharakterisierung, z. B. XSW (Stehende Wellenfelder), SAXS und GISAXS (Grazing Incidence Small Angle Scattering), Röntgenrefraktometrie, XAFS (Röntgenabsorptionsspektroskopie)
Neue Entwicklungen bei Komponenten für röntgenanalytische Geräte
– Neuentwicklungen bei Laborröntgenquellen
– Großflächige Detektionssysteme mit hoher Orts- und Energieauflösung
– Röntgenoptiken für verschiedene analytische Anwendungen – erreichter Entwicklungsstand
Aussteller:
AXO Dresden GmbH
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung
Bruker Nano GmbH
DREEBIT GmbH
EFG GmbH
greateyes GmbH
FLUXANA GmbH & Co. KG
IfG Institute for Scientific Instruments GmbH
Incoatec GmbH
iseg Spezialelektronik GmbH
PANalytical GmbH
Petrick GmbH
Rigaku Innovative Technologies
rtw RÖNTGEN-TECHNIK DR. WARRIKHOFF GmbH & Co. KG
Seiko Instruments GmbH
SPECTRO Analytical Instruments GmbH
Thermo Fisher Scientific GmbH
TSB Innovationsagentur Berlin GmbH
VDI Berlin-Brandenburg
WISTA MANAGEMENT GmbH