Fachtagung PRORA Prozessnahe Röntgenanalytik 12. und 13. November 2015

Ort:

WISTA Wissenschafts- und Technologiepark Adlershof
Einstein-/Newton-Kabinett
Bunsensaal

Rudower Chaussee 17
12489 Berlin

Themen:

Methodische Herausforderungen

– Vergleich und Kopplung verschiedener sensorgestützter  Verfahren unter Nutzung des elektromagnetischen Spektrums (Röntgenanalytik, Infrarotanalytik, VUV Terrahertz) zur Prozesskontrolle

– Neue methodische Ansätze beim Einsatz der Röntgenanalytik (XRF, XRD, Röntgentransmission) unter Industriebedingungen

– Einsatz von Referenzproben und Standards

– Softwareentwicklung zur Auswertung der Messdaten für Qualitätskontrolle und Steuerung  von technologischen Prozessen

– Herausforderungen der Vor-Ort-Analyse an Messgeräte und Peripherie

– Besonderheiten beim Einsatz von Handgeräten mit gekoppelten Messverfahren (UV, NIR, Raman, LIBS, Röntgen)

Applikationen in der Industrie

– Prozessanalytik im Bereich Recycling

– Ressourcenanalytik im Bereich der Rohstoffe (Erze, Steine, Erden)

– Beispiele aus Maschinenbau, Elektronik-, Automobilindustrie, chemischer Industrie im Hinblick auf eine Vernetzung von Objekten, Sensoren und Steuerungen im Produktionsablauf

– Kombination röntgenanalytischer und optischer Messverfahren im industriellen Einsatz

– Dünnschichtanalytik mit verschiedenen Verfahren (Röntgenanalytik, Infrarotellipsometrie,  VUV)

– Röntgenanalytik an Fluiden

Neue röntgenanalytische Methoden

– Röntgenmikroanalyse (WD) leichter Elemente mit Hilfe von Fresnel-Optiken Nachweis von Li

– Zeitaufgelöste Röntgenmessverfahren

– Röntgenrefraktometrie

– Röntgenmikroskopie mit Laborgeräten

– Speziation mittels Röntgen –Emissions – und Absorptions – Spektroskopie

Neue Entwicklungen bei Komponenten für prozessanalytische Geräte

– Kombinierte röntgen und lichtoptische Bauelemente

– Weiterentwicklung der Kapillaroptiken

– Fresnel- und Gitteroptiken für den niederenergetischen Röntgenbereich

– Laborröntgenquellen für den Prozesseinsatz

– Neuentwicklungen bei den Detektionssystemen für den prozessnahen Einsatz

Aussteller:

Anton Paar GmbH

AXO Dresden GmbH

Berlin Partner für Wirtschaft und Technologie GmbH

Bruker Nano GmbH

FLUXANA GmbH & Co. KG

Freiberg Instruments GmbH

greateyes GmbH

IfG Institute for Scientific Instruments GmbH

JEOL (Germany) GmbH

Fraunhofer Institut für Keramische Technologien und Systeme

Incoatec GmbH

iseg Spezialelektronik GmbH

KETEK GmbH

PANalytical

Petrick GmbH

Rigaku Innovative Technologies

rtw RÖNTGEN-TECHNIK DR. WARRIKHOFF GmbH & Co. KG

SPECTRO Analytical Instruments GmbH