Fachtagung PRORA Prozessnahe Röntgenanalytik 30. November und 1. Dezember 2017
Ort:
Wissenschafts- und Technologiepark Adlershof
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung
Richard-Willstätter-Straße 11
12489 Berlin
Themen:
Methodische Herausforderungen
– Vergleich und Kopplung sensorgestützter Verfahren unter Nutzung des elektromagnetischen Spektrums zur Prozesskontrolle
– Neue Ansätze beim Einsatz der Röntgenanalytik unter Industriebedingungen
– Softwareentwicklung zur Auswertung der Messdaten und Spektren speziell für den weichen Röntgenbereich (30 eV – 2 keV)
– Probleme der Probenpräparation in der Röntgenanalytik – besondere Anforderungen für Inline- und Online-Verfahren
Applikationen in der Industrie
– Prozessanalytik in der Rohstoff-(rück)-gewinnung
– Vernetzung von Objekten, Sensoren und Steuerungen im Produktionsablauf – Beispiele aus Maschinenbau, chemischer, Elektronik-, Automobilindustrie u.a.
– Kombination röntgenanalytischer und optischer Messverfahren im industriellen Einsatz
– Herausforderungen der Vor-Ort-Analyse an Messgeräte und Peripherie
Neue röntgenanalytische Methoden
– Röntgenmikroanalyse leichter Elemente
– Zeitaufgelöste Röntgenmessverfahren
– Röntgenmikroskopie und Absorptionsspektroskopie mit Laborgeräten
– Speziation
Entwicklungen bei Komponenten für prozessanalytische Geräte
– Kombinierte röntgen- und lichtoptische Bauelemente
– Weiterentwicklung von Röntgenoptiken
– Laborröntgenquellen für den Prozesseinsatz
– Detektionssysteme für den prozessnahen Einsatz
Aussteller:
Anton Paar GmbH
AXO Dresden GmbH
Bruker Nano GmbH
FLUXANA GmbH & Co. KG
Freiberg Instruments GmbH
greateyes GmbH
Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik
Hitachi High-Tech Analytical Science GmbH
Incoatec GmbH
iseg Spezialelektronik GmbH
LUM GmbH
PANalytical
Petrick GmbH
Pfeiffer Vacuum GmbH
Rigaku Innovative Technologies
rtw RÖNTGEN-TECHNIK DR. WARRIKHOFF GmbH & Co. KG
SmarAct GmbH
SPECTRO Analytical Instruments GmbH